设备性能参数/功能用途

技术指标：

分辨率：1.0nm @ 15kV

放大率：12×～2,000,000×

加速电压：0.05kV～30kV

探针电流：5pA～20nA

样品室：330mm（内径）×270mm（高）

配置：

1.探测器：

In-lens Duo 内置式二次电子+能量选择背散射电子探测器

E-T 二次电子探测器

AsB 角度选择型背散射电子探测器

2.EDS

品牌：Oxford Instruments

型号：Aztec X-MAXN 50

能量分辨率：127eV@MnKα

探测元素范围：Be4～U92

3.EBSD

品牌：Oxford Instruments

探头型号：Nordlys Max3

软件系统：AztecCrystal；HKL Channel 5

CCD相机分辨率：640 × 480

标定速度：870Hz（点/秒）

4.原位拉伸台

品牌：Gatan

型号：MTEST 2000ES

最大载荷：2000N

功能：拉伸；压缩；三点和四点弯曲

力测试精度：载荷级别的1%

拉伸速度：0.033～0.4mm/min

试件可拉伸距离：≤10mm

功能：该设备是一台通用的高性能热场发射扫描电子显微镜，用于观察和分析金属、无机、有机、生物、复合材料等各种样品的表面微观形貌、结构特征和成分、取向（织构）信息。

厂商、规格、型号

Zeiss Merlin Compact

联系人

李老师：13810950469