真三维X射线断面分析仪
时间:2022-09-01
作者:
厂商、规格、型号
德国依科视朗,FF35CT
设备性能参数/功能用途
FF35CT可对样品内部缺陷检测、密度测试、结构分析、材质组成、内部尺寸测量、壁厚分析等试验,可以实现快速、准确、有效的失效分析和尺寸测量、缺陷检测。
技术指标:
探头:225kV微焦点折射X射线探头、190kV微焦点透射X射线探头。
成像:高分辨率成像面板Y.Panel 2530,可实现螺旋、扩展和DR功能。
精度:机械定位精度±2.5微米,旋转精度< 0.005 o,对材料内部尺寸测量精度可达到5-20微米。
尺寸要求:最大工件尺寸300mm(直径 )×500 mm(高),最小工件尺寸0.1mm(直径 )×0.1 mm(高)。
联系方式
联系人:王老师、赖老师
电话:010-62332239、18518732529
邮箱:wangxt@ustb.edu.cn、yuminglai@ustb.edu.cn